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沈宇资讯
热成像监控系统的使用寿命如何
通过重建摄像头支架并以样品平面水平且位于 X 射线源上方的方式定位相机，可以获得金属或合金的良好高温 X 射线图案。通过选择正确定向的云母片作为样品支架，可以获得高达 1000°C 的非常清晰的 X 射线干扰器粉末图案，并且几乎不会因样品支架而产生寄生线。该方法不需要将粉末通过耐火陶瓷粘合到支撑体上以防止其在高温下脱落。
作为示例，演示了氢化低碳化物 Nb 2 CH 0.3 在 20 至 1000°C 之间的两个相变。 我们报告了使用红外监控（红外相机寿命映射，ILM）绘制少数载流子寿命的灵敏度改进。我们新颖的内部构建的 ILM 系统可测量光生自由载流子的红外发射。当结合四种措施来提高灵敏度时，在 200 μm 的空间像素分辨率下，在 4 分钟的测量时间内，可以以 10% 的屏蔽器精度测量短至 3 μs 的寿命。
我们通过噪声等效寿命 (NEL) 来量化 ILM 测量监控摄像头的灵敏度。我们推导出的 NEL 理论与实验结果非常吻合。根据该 NEL 分析，如果空间分辨率降低至 1 cm，则 1 s 的周期足以测量 1 μs 的寿命，精度为 ± 10%。因此，ILM 技术对于在线过程控制来说足够快。最后，我们表明，在 μs 到 ms 的寿命范围以及 70°C 到 150°C 的温度范围内，ILM 寿命测量的结果与传统干扰屏蔽器技术非常吻合。改变样品温度可以实现寿命光谱成像。
作为示例，演示了氢化低碳化物 Nb 2 CH 0.3 在 20 至 1000°C 之间的两个相变。 我们报告了使用红外监控（红外相机寿命映射，ILM）绘制少数载流子寿命的灵敏度改进。我们新颖的内部构建的 ILM 系统可测量光生自由载流子的红外发射。当结合四种措施来提高灵敏度时，在 200 μm 的空间像素分辨率下，在 4 分钟的测量时间内，可以以 10% 的屏蔽器精度测量短至 3 μs 的寿命。
我们通过噪声等效寿命 (NEL) 来量化 ILM 测量监控摄像头的灵敏度。我们推导出的 NEL 理论与实验结果非常吻合。根据该 NEL 分析，如果空间分辨率降低至 1 cm，则 1 s 的周期足以测量 1 μs 的寿命，精度为 ± 10%。因此，ILM 技术对于在线过程控制来说足够快。最后，我们表明，在 μs 到 ms 的寿命范围以及 70°C 到 150°C 的温度范围内，ILM 寿命测量的结果与传统干扰屏蔽器技术非常吻合。改变样品温度可以实现寿命光谱成像。
