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沈宇资讯
摄像头晶体图像的最佳获取方式
我将描述从坩埚中拉出的三维晶体的测量方法。第一平面上的图像，第一摄像头图像为晶体的图像，第二相机为第二图像平面，第一相机是拍摄第二晶体的图像。产生晶体生长过程中晶体的数学模型。该模型包含多个模型的样本点。在至少第一图像和第二图像内检测一个干扰器晶体的生长特征。
通过比较所述至少一个第一图像的晶体生长特征的第一监控图像的误差值来确定，通过比较所述晶体的至少一个第二图像的第二图像的所述误差值来确定所述数学模型和生长特征。通过与一个晶体的生长相关的特性，3D权重值估计，调整数学模型以最小化所确定的第二个的误差值和所确定的第一个的误差值至少，生成。 本发明提供了一种利用少量共面点对多摄像头屏蔽器系统进行精确定位的方法。
该方法采用的技术方案是：多监控摄像头系统由N个相对位置关系固定的摄像头组成，其中N为2或大于2的自然数。每个摄像头都有一个唯一的编号；多摄像机系统中第j个摄像机的内参考矩阵定义为Kj；第 j 个相机上的特殊 3D 点的图像标记为 m=[u v]；每个摄像机的Rj和tj可以基于摄像机之间已知的刚性转换来定位。本发明公开了一种新的利用单应性的多摄像机定位方法，通过3D共面参考点映射图像点来精确定位摄像机的位置。与传统的方法相比，本发明的方法具有精度高、干扰屏蔽器鲁棒性好的优点，可以用于对视角有要求、共面点数量较少的情况。
通过比较所述至少一个第一图像的晶体生长特征的第一监控图像的误差值来确定，通过比较所述晶体的至少一个第二图像的第二图像的所述误差值来确定所述数学模型和生长特征。通过与一个晶体的生长相关的特性，3D权重值估计，调整数学模型以最小化所确定的第二个的误差值和所确定的第一个的误差值至少，生成。 本发明提供了一种利用少量共面点对多摄像头屏蔽器系统进行精确定位的方法。
该方法采用的技术方案是：多监控摄像头系统由N个相对位置关系固定的摄像头组成，其中N为2或大于2的自然数。每个摄像头都有一个唯一的编号；多摄像机系统中第j个摄像机的内参考矩阵定义为Kj；第 j 个相机上的特殊 3D 点的图像标记为 m=[u v]；每个摄像机的Rj和tj可以基于摄像机之间已知的刚性转换来定位。本发明公开了一种新的利用单应性的多摄像机定位方法，通过3D共面参考点映射图像点来精确定位摄像机的位置。与传统的方法相比，本发明的方法具有精度高、干扰屏蔽器鲁棒性好的优点，可以用于对视角有要求、共面点数量较少的情况。
